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嘉峪檢測網(wǎng) 2026-03-11 22:00
一、存儲(chǔ)器發(fā)展過程
存儲(chǔ)技術(shù)的歷史可追溯到18世紀(jì)20年代,從最初的紙質(zhì)記錄到現(xiàn)代高度集成的半導(dǎo)體存儲(chǔ)器,存儲(chǔ)技術(shù)經(jīng)歷了數(shù)百年的演變,推動(dòng)了計(jì)算機(jī)科學(xué)、通信技術(shù)及各類電子設(shè)備的飛速發(fā)展。
最初的信息存儲(chǔ)主要依賴于紙質(zhì)媒介,1725年,法國人布喬(Jacquard)發(fā)明了打孔卡,被認(rèn)為是最早的機(jī)械化信息存儲(chǔ)形式,標(biāo)志著數(shù)據(jù)存儲(chǔ)和處理從人工手段向機(jī)械化方式轉(zhuǎn)型。
隨著電子技術(shù)的發(fā)展,存儲(chǔ)器逐步從機(jī)械存儲(chǔ)轉(zhuǎn)向基于磁性媒介的磁存儲(chǔ)器。1928年,磁帶被發(fā)明并開始商用,標(biāo)志著磁性存儲(chǔ)時(shí)代的到來。此后不久,1932年,第一個(gè)磁鼓內(nèi)存被制造出來,其存儲(chǔ)容量為62.5千字,能夠被電子計(jì)算機(jī)進(jìn)行快速訪問,成為電子計(jì)算機(jī)存儲(chǔ)技術(shù)的初步嘗試之一。
1946年,世界上第一臺(tái)電子管計(jì)算機(jī)——ENIAC在美國賓夕法尼亞大學(xué)誕生。采用再生電容磁鼓存儲(chǔ)器存儲(chǔ)數(shù)據(jù),與現(xiàn)代微型計(jì)算機(jī)相比,其體積和質(zhì)量都顯得十分巨大。
1956年,IBM公司發(fā)明了硬盤驅(qū)動(dòng)器(Hard Disk Drive,HDD)成為磁性存儲(chǔ)器的重要突破。硬盤的出現(xiàn)顯著提高了存儲(chǔ)容量,并能更高效地進(jìn)行數(shù)據(jù)存取,廣泛應(yīng)用于計(jì)算機(jī)數(shù)據(jù)的存儲(chǔ),取代了較為笨重的磁鼓內(nèi)存。
20世紀(jì)60年代末,光存儲(chǔ)技術(shù)開始嶄露頭角。1965年,世界上第一個(gè)只讀光盤存儲(chǔ)器(CD-ROM)誕生。光盤憑借較大的存儲(chǔ)容量及激光讀取技術(shù),在數(shù)據(jù)存儲(chǔ)領(lǐng)域占據(jù)一席之地。與此同時(shí),半導(dǎo)體存儲(chǔ)技術(shù)的發(fā)明引發(fā)了信息存儲(chǔ)領(lǐng)域的新一輪技術(shù)革命。
1966年,動(dòng)態(tài)隨機(jī)存取存儲(chǔ)器問世,標(biāo)志著半導(dǎo)體存儲(chǔ)時(shí)代的到來。最初的DRAM存儲(chǔ)容量僅為1 kB,但隨著芯片的集成度的不斷提高,單位面積上的晶體管以及存儲(chǔ)電容的數(shù)量也在急劇的增加,現(xiàn)在的單顆裸片的存儲(chǔ)容量已經(jīng)達(dá)到了16 Gb以上。
與傳統(tǒng)的磁性存儲(chǔ)器相比,半導(dǎo)體存儲(chǔ)器在數(shù)據(jù)存取速度、容量、體積、耐用性以及能耗等多個(gè)方面表現(xiàn)出了更為突出的優(yōu)勢,推動(dòng)了其在各類應(yīng)用中的普及。
下圖展示了常見存儲(chǔ)器的種類,包括磁性存儲(chǔ)器、光學(xué)存儲(chǔ)器、半導(dǎo)體存儲(chǔ)器以及它們的代表性產(chǎn)品。

二、半導(dǎo)體存儲(chǔ)器分類
根據(jù)掉電存儲(chǔ)信息是否會(huì)丟失,半導(dǎo)體存儲(chǔ)器大致可以分為兩大類,即非易失性存儲(chǔ)器(Non-volatile Memory, NVM)和易失性存儲(chǔ)器(Volatile Memory, VM)。
非易失性存儲(chǔ)器是當(dāng)外部的電源停止供電后,其存儲(chǔ)的數(shù)據(jù)信息還能長時(shí)間保持。與此相對,易失性存儲(chǔ)器是在外部電源斷開后,其存儲(chǔ)的數(shù)據(jù)信息會(huì)丟失,這意味著,要想保證數(shù)據(jù)信息的完整性,必須時(shí)刻對存儲(chǔ)器保持供電狀態(tài)。
非易失性存儲(chǔ)器主要指的是只讀存儲(chǔ)器(ROM)。為了滿足不同應(yīng)用場景的需求,只讀存儲(chǔ)器發(fā)展成若干不同的種類,具體包括:可編程只讀存儲(chǔ)器(PROM)、可抹除可編程只讀存儲(chǔ)器(EPROM)、電子式可抹除可編程只讀存儲(chǔ)器(EEPROM)和快閃存儲(chǔ)器(Flash memory),這些不同類型的非易失性存儲(chǔ)器在結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)、編程方式、擦除機(jī)制以及應(yīng)用領(lǐng)域方面各具特色。
其中,PROM是最基礎(chǔ)的可編程存儲(chǔ)器,出廠時(shí)為空白狀態(tài),用戶可在使用前進(jìn)行一次性編程,數(shù)據(jù)一旦寫入便無法更改。因此,適用于存儲(chǔ)固定程序或參數(shù)配置等無需更新的場景。相比之下,EPROM進(jìn)一步提升了PROM的可用性,允許用戶在編程后通過紫外線照射方式擦除已寫入的數(shù)據(jù)信息,使得同一芯片可多次使用。然而,EPROM擦除過程緩慢且依賴專用設(shè)備,限制了其靈活性。為進(jìn)一步提升擦除和編程的便捷性,EEPROM應(yīng)運(yùn)而生。它通過施加高電場的方式移除浮柵中的電子,實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)的擦除和重寫,支持多次擦除和編程。與EPROM相比,EEPROM在封裝時(shí)無需保留石英透明窗口,因此結(jié)構(gòu)更緊湊,同時(shí),擦除數(shù)據(jù)的方式更加高效。
Flash Memory則是在EEPROM技術(shù)上的進(jìn)一步優(yōu)化和擴(kuò)展,廣泛應(yīng)用于現(xiàn)代電子產(chǎn)品中。它的工作原理與EEPROM類似,但采用了不同的存儲(chǔ)單元結(jié)構(gòu)和更高效的數(shù)據(jù)處理方式。EEPROM采用的是逐字節(jié)數(shù)據(jù)擦除的方式,而Flash Memory采用的是塊級擦除,即整塊存儲(chǔ)區(qū)域需要一起擦除才能重新寫入。這使得Flash Memory的寫入速度遠(yuǎn)高于EEPROM。
易失性存儲(chǔ)器通常指隨機(jī)存儲(chǔ)器(RAM),也稱為內(nèi)存。根據(jù)隨機(jī)存儲(chǔ)器在工作時(shí)是否需要不斷通電刷新保存的數(shù)據(jù),可分為靜態(tài)隨機(jī)存取存儲(chǔ)器(SRAM)和動(dòng)態(tài)隨機(jī)存取存儲(chǔ)器。所謂的靜態(tài)隨機(jī)存取存儲(chǔ)器,就是在其工作的時(shí)候,只要不斷電,存儲(chǔ)的數(shù)據(jù)就可以一直保持。相比之下,DRAM存儲(chǔ)的數(shù)據(jù)就需要定期的刷新。因?yàn)镈RAM是將數(shù)據(jù)存儲(chǔ)在電容當(dāng)中,電容是非理想的,會(huì)存在介質(zhì)漏電,如果不定期的刷新,會(huì)導(dǎo)致存儲(chǔ)信息的丟失。與SRAM相比,DRAM存儲(chǔ)單元的結(jié)構(gòu)十分簡單,僅有一個(gè)晶體管和一個(gè)存儲(chǔ)電容構(gòu)成,而且成本較低,因此在許多領(lǐng)域得到廣泛的應(yīng)用,也成為集成電路市場中單品銷售額占比最高的芯片。
三、動(dòng)態(tài)隨機(jī)存取存儲(chǔ)器
動(dòng)態(tài)隨機(jī)存取存儲(chǔ)器作為當(dāng)前信息社會(huì)中最為關(guān)鍵的半導(dǎo)體存儲(chǔ)技術(shù)之一,已被廣泛應(yīng)用于人工智能、云計(jì)算、物聯(lián)網(wǎng)及高性能計(jì)算等諸多領(lǐng)域。隨著上述產(chǎn)業(yè)的迅猛發(fā)展,對高性能存儲(chǔ)器的需求呈現(xiàn)出指數(shù)級增長,特別是近年來,DRAM的市場需求已達(dá)前所未有的水平。與此同時(shí),新興產(chǎn)業(yè)對存儲(chǔ)器的性能提出了更高的要求,尤其是在存儲(chǔ)容量、讀取速度和功耗等方面。
因此,為了適應(yīng)這些日益嚴(yán)苛的需求,DRAM芯片必須不斷沿著摩爾定律進(jìn)行迭代和升級,以提升其性能。除了在電路設(shè)計(jì)與系統(tǒng)架構(gòu)層面的優(yōu)化之外,關(guān)于DRAM器件層級的研究,尤其是針對存儲(chǔ)單元微縮與器件物理極限的探索,也成為當(dāng)前學(xué)術(shù)界與工業(yè)界關(guān)注的熱點(diǎn)。
DRAM器件的操作特性主要受到存儲(chǔ)電容的影響,因此,大多數(shù)關(guān)于DRAM器件的研究主要集中在如何實(shí)現(xiàn)存儲(chǔ)電容性能的增強(qiáng),這也是研發(fā)人員重點(diǎn)研究的領(lǐng)域。
四、DRAM存儲(chǔ)器結(jié)構(gòu)
從功能上來看,DRAM芯片主要由存儲(chǔ)陣列區(qū)域(Memory Cell Array)和外圍電路區(qū)域(Peripheral Circuitry)兩大部分組成,這兩個(gè)區(qū)域各自有不同的特點(diǎn)和作用,共同支持DRAM存儲(chǔ)器的正常工作。
外圍電路區(qū)域是DRAM存儲(chǔ)器的輔助部分,負(fù)責(zé)對存儲(chǔ)陣列進(jìn)行控制、訪問、數(shù)據(jù)傳輸?shù)裙芾砉ぷ?,為存?chǔ)陣列的正常操作提供支持。其涉及的功能包括地址選擇、數(shù)據(jù)讀寫、刷新、以及與系統(tǒng)其他部件的接口。
存儲(chǔ)陣列是DRAM存儲(chǔ)器的核心部分,負(fù)責(zé)實(shí)際的數(shù)據(jù)存儲(chǔ)。在每一次的數(shù)據(jù)讀寫過程中,外圍電路通過地址解碼和控制信號來選中存儲(chǔ)陣列中的特定單元,同時(shí)與存儲(chǔ)陣列中的存儲(chǔ)電容、字線、位線、靈敏放大電路等結(jié)構(gòu)相互配合來完成對數(shù)據(jù)的讀取和存儲(chǔ)。
存儲(chǔ)陣列和外圍電路兩者協(xié)同工作,使得DRAM存儲(chǔ)器具有大容量的同時(shí),還能進(jìn)行高速、高效的數(shù)據(jù)操作。
DRAM存儲(chǔ)器內(nèi)部的基本結(jié)構(gòu)如下圖所示:

從物理結(jié)構(gòu)上來看,DRAM存儲(chǔ)器采用層層分級的設(shè)計(jì)結(jié)構(gòu),如圖所示:

圖(a)展示了由8個(gè)DRAM芯片構(gòu)成的內(nèi)存條,其中,每個(gè)DRAM芯片都是由功能完整的Die通過封裝后得到。如圖(b)所示,每個(gè)Die又包含多個(gè)完全相同的Bank,所有的Bank都是可以獨(dú)立處理數(shù)據(jù)的單元。而每個(gè)Bank內(nèi)部又包含成千上萬個(gè)1T1C的基本單元,如圖(c)所示。以容量為1GB的DRAM存儲(chǔ)器來說,其至少包含10E9個(gè)1T1C基本單元,也就是10E9個(gè)電容器,每個(gè)電容器用于存儲(chǔ)1位二進(jìn)制數(shù)據(jù)信息。

五、DRAM存儲(chǔ)單元工作原理
下圖描繪了1T-1C DRAM存儲(chǔ)單元結(jié)構(gòu),每個(gè)存儲(chǔ)單元由一個(gè)電容C和一個(gè)晶體管T組成。在該單元結(jié)構(gòu)中,二進(jìn)制信息(bit)以電荷的形式存儲(chǔ)在電容C上,電容C通過晶體管T連接到位線(Bit line, BL)。晶體管T充當(dāng)開關(guān)的作用,其柵極由垂直于位線的字線(Word line, WL)控制。因此,每個(gè)獨(dú)立的DRAM存儲(chǔ)單元可以經(jīng)由一根字線和一根位線進(jìn)行尋址。在存儲(chǔ)單元之外,還有一個(gè)與BL電路直接相連的重要結(jié)構(gòu),即感應(yīng)放大器(Sensing Amplifier, SA)。

感應(yīng)放大器通常包括一個(gè)交叉耦合的反相器電路,可以最大限度地提高信噪比,實(shí)現(xiàn)存儲(chǔ)的電荷信息與數(shù)字信息之間的轉(zhuǎn)換。
DRAM存儲(chǔ)器有三種基本工作模式,分別是寫入操作、保持操作(又叫刷新操作)和讀取操作。這三種操作是DRAM能夠正常存儲(chǔ)和提供數(shù)據(jù)的基礎(chǔ)。
其中保持操作是DRAM的重要特點(diǎn)之一,區(qū)別于基于晶體管存儲(chǔ)的靜態(tài)隨機(jī)存取存儲(chǔ)器。這主要是因?yàn)镈RAM存儲(chǔ)器存儲(chǔ)單元中的晶體管和電容器都是非理想的,存在一定程度的漏電,必須通過定期刷新的方式確保電容上的電荷量始終處于一定的范圍。
為了應(yīng)對電容上的漏電問題,設(shè)計(jì)者們在存儲(chǔ)陣列的電路設(shè)計(jì)上進(jìn)行了一些創(chuàng)新。比如,讓極板(Plate, PL)電壓始終保持VBLH/2,這樣一來,電容器上的有效電壓實(shí)際是在±VBLH/2 之間切換,而并非是在0V和VBLH之間切換,這能夠一定程度上減小電容介質(zhì)上所施加的電應(yīng)力,從而實(shí)現(xiàn)對電容器泄漏電流的改善。
所謂的寫入操作,就是將數(shù)據(jù)從數(shù)據(jù)總線寫入DRAM存儲(chǔ)電容的過程。
具體操作如下:首先,內(nèi)存控制器向DRAM芯片發(fā)送攜帶目標(biāo)存儲(chǔ)地址(行地址和列地址)以及待寫入的數(shù)據(jù)的命令,由行列譯碼器解碼地址信號,確定目標(biāo)存儲(chǔ)單元所在行和列。隨后,將位線BL預(yù)充電至高電壓VBLH或低電壓VBLL。
接著,向字線施加高電壓VWLH,使存取晶體管T導(dǎo)通。此時(shí),位線將對存儲(chǔ)電容C充電或放電,從而實(shí)現(xiàn)將信息的寫入。
當(dāng)向晶體管T的柵極施加低電壓VWLL時(shí),存儲(chǔ)電容C與位線BL斷開,信息將被保存在存儲(chǔ)電容C上。通過以上操作,DRAM存儲(chǔ)器實(shí)現(xiàn)了數(shù)據(jù)的動(dòng)態(tài)寫入。
保持操作指的是DRAM存儲(chǔ)器在完成寫入或讀取操作后,繼續(xù)保持當(dāng)前的數(shù)據(jù)狀態(tài),直至下一次操作。
正如前文所述,由于存取晶體管和存儲(chǔ)電容的非理想特性,隨著時(shí)間的推移,儲(chǔ)存的電荷信息會(huì)逐漸地丟失。因此,需要對DRAM存儲(chǔ)器進(jìn)行周期性的刷新。
刷新的具體操作如下:當(dāng)內(nèi)存控制器發(fā)出刷新命令后,芯片內(nèi)部的刷新計(jì)數(shù)器會(huì)生成一個(gè)待刷新的行地址,并把待刷新的行激活。
此時(shí),目標(biāo)行的所有存儲(chǔ)單元被打開,電容中的電荷與位線電荷進(jìn)行分享,并導(dǎo)致位線電位發(fā)生微小變化。感應(yīng)放大器會(huì)快速讀取并放大位線電位變化,將其放大為邏輯高電平(1)或低電平(0)所對應(yīng)的電位。隨后,完成電容器中電荷的恢復(fù)。
刷新完成后,關(guān)閉當(dāng)前行并復(fù)位位線,為下一次刷新或正常讀寫請求做好準(zhǔn)備。與此同時(shí),刷新計(jì)數(shù)器自動(dòng)遞增,指向下一行的地址。這一過程循環(huán)往復(fù),確保在規(guī)定的刷新周期內(nèi)(通常為64毫秒或32毫秒,與具體產(chǎn)品型號有關(guān))完成所有行的刷新。每次刷新操作會(huì)占用數(shù)百納秒的時(shí)間,在這個(gè)期間DRAM無法響應(yīng)外部訪問請求,導(dǎo)致短暫的性能延遲。
讀取操作是將DRAM單元中存儲(chǔ)的數(shù)據(jù)從電容器中讀取并傳送到數(shù)據(jù)總線的過程。
具體操作如下:首先,將差分感應(yīng)放大器SA輸入端施加相等的信號VBLH/2,此刻觸發(fā)器處于亞穩(wěn)態(tài)。隨后,通過施加高電位VWLH打開所選擇的WL,使存儲(chǔ)電容C和相應(yīng)的位線BL連接。此時(shí),電荷會(huì)在存儲(chǔ)電容C與位線電容CBL之間重新分配,導(dǎo)致有源BL上的電壓變化,而無源BL上的電壓仍保持在VBLH/2的預(yù)充電電平。
觸發(fā)器會(huì)根據(jù)有源BL上的電壓變化跳轉(zhuǎn)到穩(wěn)定狀態(tài)。如果存儲(chǔ)電容里的電荷為“0”,則有源BL上的電壓減小,低于VBLH/2,最終觸發(fā)器跳轉(zhuǎn)到穩(wěn)定狀態(tài)“0”。如果存儲(chǔ)電容上的電荷為“1”,則有源位線電壓增加,觸發(fā)器最終進(jìn)入“1”狀態(tài)。觸發(fā)器的狀態(tài)可以通過外圍邏輯電路讀取,從而實(shí)現(xiàn)DRAM單元中存儲(chǔ)信息的讀取。
DRAM單元的讀操作是一種破壞性的讀。因此,整個(gè)讀出過程中,存取晶體管T始終處于選通狀態(tài),隨著觸發(fā)器擺動(dòng)到穩(wěn)定狀態(tài),存儲(chǔ)單元中的信息可以被重寫。
好了,關(guān)于半導(dǎo)體存儲(chǔ)的相關(guān)知識(shí)就介紹到這兒,對半導(dǎo)體感興趣的同學(xué)歡迎關(guān)注《半導(dǎo)體全解》,一起了解更多半導(dǎo)體知識(shí)!
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來源:半導(dǎo)體全解