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樣品名稱:半導體發(fā)光二極管芯片
檢測項目:峰值發(fā)射波長、光譜寬帶、相對光譜功率分布和重心波長
認可資質:其它
檢測標準:半導體發(fā)光二極管芯片測試方法 SJ/T 11399-2009 6.4
服務地點:全國
適用范圍:電子電氣
標簽: 半導體發(fā)光二極管芯片 峰值發(fā)射波長、光譜寬帶、相對光譜功率分布和重心波長 半導體發(fā)光二極管芯片測試方法 SJ/T 11399-2009 6.4
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