樣品名稱:半導(dǎo)體發(fā)光二極管芯片
檢測(cè)項(xiàng)目:峰值發(fā)射波長(zhǎng)、光譜寬帶、相對(duì)光譜功率分布和重心波長(zhǎng)
認(rèn)可資質(zhì):其它
檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn):半導(dǎo)體發(fā)光二極管芯片測(cè)試方法 SJ/T 11399-2009 6.4
服務(wù)地點(diǎn):全國(guó)
適用范圍:電子電氣
標(biāo)簽: 半導(dǎo)體發(fā)光二極管芯片 峰值發(fā)射波長(zhǎng)、光譜寬帶、相對(duì)光譜功率分布和重心波長(zhǎng) 半導(dǎo)體發(fā)光二極管芯片測(cè)試方法 SJ/T 11399-2009 6.4