樣品名稱:半導體電子元器件
檢測項目:高溫反偏
認可資質(zhì):其它
檢測標準:半導體器件的環(huán)境試驗方法 第1部分:測試方法 方法1038 老煉(用于二極管,整流器和穩(wěn)壓管) MIL-STD-750F-2012 方法 1038
服務(wù)地點:全國
適用范圍:電子電氣
標簽: 半導體電子元器件 高溫反偏 半導體器件的環(huán)境試驗方法 第1部分:測試方法 方法1038 老煉(用于二極管,整流器和穩(wěn)壓管) MIL-STD-750F-2012 方法 1038