樣品名稱:半導(dǎo)體集成電路模擬開(kāi)關(guān)
檢測(cè)項(xiàng)目:高溫貯存
認(rèn)可資質(zhì):其它
檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn):半導(dǎo)體模擬集成電路“七?!奔夹g(shù)條件 QZJ840615 3.8.3
服務(wù)地點(diǎn):全國(guó)
適用范圍:電子電氣
標(biāo)簽: 半導(dǎo)體集成電路模擬開(kāi)關(guān) 高溫貯存 半導(dǎo)體模擬集成電路“七專”技術(shù)條件 QZJ840615 3.8.3