樣品名稱:半導(dǎo)體器件
檢測(cè)項(xiàng)目:漏源/集射間反向擊穿電壓
認(rèn)可資質(zhì):其它
檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn):半導(dǎo)體測(cè)試方法測(cè)試標(biāo)準(zhǔn) MIL-STD-750F-2012 3407.1
服務(wù)地點(diǎn):全國(guó)
適用范圍:電子電氣
標(biāo)簽: 半導(dǎo)體器件 漏源/集射間反向擊穿電壓 半導(dǎo)體測(cè)試方法測(cè)試標(biāo)準(zhǔn) MIL-STD-750F-2012 3407.1