樣品名稱:半導(dǎo)體集成電路和元器件
檢測(cè)項(xiàng)目:預(yù)處理試驗(yàn)
認(rèn)可資質(zhì):其它
檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn):非密封性表面貼裝元器件可靠性試驗(yàn)的前預(yù)處理/ JESD22-A113I-2020
服務(wù)地點(diǎn):全國(guó)
適用范圍:電子電氣
標(biāo)簽: 半導(dǎo)體集成電路和元器件 預(yù)處理試驗(yàn) 非密封性表面貼裝元器件可靠性試驗(yàn)的前預(yù)處理/ JESD22-A113I-2020