樣品名稱:半導(dǎo)體IGBT電路
檢測(cè)項(xiàng)目:高溫測(cè)試
認(rèn)可資質(zhì):其它
檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn):半導(dǎo)體器件 分立器件第9部分:絕緣柵雙極晶體管(IGBT) GB/T 29332-2012 6.3.4
服務(wù)地點(diǎn):全國(guó)
適用范圍:電子電氣
標(biāo)簽: 半導(dǎo)體IGBT電路 高溫測(cè)試 半導(dǎo)體器件 分立器件第9部分:絕緣柵雙極晶體管(IGBT) GB/T 29332-2012 6.3.4