樣品名稱:半導(dǎo)體可控硅
檢測(cè)項(xiàng)目:低溫測(cè)試
認(rèn)可資質(zhì):其它
檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn):半導(dǎo)體器件 第 第6部分 晶閘管 GB/T15291-2015 9.1.2、9.1.3、 9.1.4、 9.1.5、 9.1.6、 9.1.7
服務(wù)地點(diǎn):全國(guó)
適用范圍:電子電氣
標(biāo)簽: 半導(dǎo)體可控硅 低溫測(cè)試 半導(dǎo)體器件 第 第6部分 晶閘管 GB/T15291-2015 9.1.2、9.1.3、 9.1.4、 9.1.5、 9.1.6、 9.1.7