樣品名稱:半導(dǎo)體集成電路封裝
檢測(cè)項(xiàng)目:結(jié)溫
認(rèn)可資質(zhì):其它
檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn):半導(dǎo)體集成電路封裝結(jié)到外殼熱阻測(cè)試方法 GB/T 14862-1993 4.4
服務(wù)地點(diǎn):全國
適用范圍:電子電氣
標(biāo)簽: 半導(dǎo)體集成電路封裝 結(jié)溫 半導(dǎo)體集成電路封裝結(jié)到外殼熱阻測(cè)試方法 GB/T 14862-1993 4.4