樣品名稱:半導(dǎo)體器件
檢測(cè)項(xiàng)目:高溫高濕反偏試驗(yàn)
認(rèn)可資質(zhì):其它
檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn):半導(dǎo)體器件機(jī)械和氣候測(cè)試方法-第5部分:穩(wěn)態(tài)溫濕度偏置壽命測(cè)試 IEC 60749-5:2017
服務(wù)地點(diǎn):全國
適用范圍:電子電氣
標(biāo)簽: 半導(dǎo)體器件 高溫高濕反偏試驗(yàn) 半導(dǎo)體器件機(jī)械和氣候測(cè)試方法-第5部分:穩(wěn)態(tài)溫濕度偏置壽命測(cè)試 IEC 60749-5:2017