樣品名稱:半導(dǎo)體器件
檢測項目:溫度循環(huán)(溫度沖擊試驗)
認可資質(zhì):其它
檢測標(biāo)準(zhǔn):半導(dǎo)體分立器件試驗方法標(biāo)準(zhǔn)方法 MIL-STD-750E:2006 METHOD 1051.6
服務(wù)地點:全國
適用范圍:電子電氣
標(biāo)簽: 半導(dǎo)體器件 溫度循環(huán)(溫度沖擊試驗) 半導(dǎo)體分立器件試驗方法標(biāo)準(zhǔn)方法 MIL-STD-750E:2006 METHOD 1051.6