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半導(dǎo)體器件集成電路存儲(chǔ)器中輸出高阻態(tài)時(shí)低電平電流IOZL檢測

  • 樣品名稱：半導(dǎo)體器件集成電路存儲(chǔ)器

  • 檢測項(xiàng)目：輸出高阻態(tài)時(shí)低電平電流IOZL

  • 認(rèn)可資質(zhì)：其它

  • 檢測標(biāo)準(zhǔn)：半導(dǎo)體集成電路 快閃存儲(chǔ)器測試方法 GB/T 36477-2018 5.5

  • 服務(wù)地點(diǎn)：全國

  • 適用范圍：電子電氣

  • 標(biāo)簽： 半導(dǎo)體器件集成電路存儲(chǔ)器 輸出高阻態(tài)時(shí)低電平電流IOZL 半導(dǎo)體集成電路 快閃存儲(chǔ)器測試方法 GB/T 36477-2018 5.5

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