樣品名稱:電子元器件
檢測(cè)項(xiàng)目:高加速溫濕度應(yīng)力試驗(yàn)(HAST)
認(rèn)可資質(zhì):其它
檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn):GB/T4937.4-2012IEC60749-4:2002 半導(dǎo)體器件 機(jī)械和氣候試驗(yàn)方法 第4部分:強(qiáng)加速穩(wěn)態(tài)濕熱試驗(yàn)(HAST)
服務(wù)地點(diǎn):全國
適用范圍:電子電氣
標(biāo)簽: 電子元器件 高加速溫濕度應(yīng)力試驗(yàn)(HAST) GB/T4937.4-2012IEC60749-4:2002 半導(dǎo)體器件 機(jī)械和氣候試驗(yàn)方法 第4部分:強(qiáng)加速穩(wěn)態(tài)濕熱試驗(yàn)(HAST)