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半導(dǎo)體集成電路（失效分析）中多頭探針測試檢測

  • 樣品名稱：半導(dǎo)體集成電路（失效分析）

  • 檢測項(xiàng)目：多頭探針測試

  • 認(rèn)可資質(zhì)：其它

  • 檢測標(biāo)準(zhǔn)：半導(dǎo)體集成電路失效分析程序和方法 GJB 3233-1998 5.2.12

  • 服務(wù)地點(diǎn)：全國

  • 適用范圍：電子電氣

  • 標(biāo)簽： 半導(dǎo)體集成電路（失效分析） 多頭探針測試 半導(dǎo)體集成電路失效分析程序和方法 GJB 3233-1998 5.2.12

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