樣品名稱:通用電子元器件(破壞性物理分析)
檢測項(xiàng)目:引出端強(qiáng)度
認(rèn)可資質(zhì):其它
檢測標(biāo)準(zhǔn):軍用電子元器件破壞性物理分析方法 GJB 4027B-2021 工作項(xiàng)目0102、0201~0203、0802、1601中2.4條,0106、1001中2.6條,0204中2.5條,1002中2.7條
服務(wù)地點(diǎn):全國
適用范圍:電子電氣
標(biāo)簽: 通用電子元器件(破壞性物理分析) 引出端強(qiáng)度 軍用電子元器件破壞性物理分析方法 GJB 4027B-2021 工作項(xiàng)目0102、0201~0203、0802、1601中2.4條,0106、1001中2.6條,0204中2.5條,1002中2.7條