樣品名稱:通用電子元器件(破壞性物理分析)
檢測項(xiàng)目:芯片剪切強(qiáng)度
認(rèn)可資質(zhì):其它
檢測標(biāo)準(zhǔn):微電子器件試驗(yàn)方法和程序 GJB 548C-2021 方法2019.3、2027.1或2031
服務(wù)地點(diǎn):全國
適用范圍:電子電氣
標(biāo)簽: 通用電子元器件(破壞性物理分析) 芯片剪切強(qiáng)度 微電子器件試驗(yàn)方法和程序 GJB 548C-2021 方法2019.3、2027.1或2031