樣品名稱:通用電子元器件(破壞性物理分析)
檢測項(xiàng)目:外部目檢
認(rèn)可資質(zhì):其它
檢測標(biāo)準(zhǔn):軍用電子元器件破壞性物理分析方法 GJB 4027B-2021 工作項(xiàng)目0101~1401、1501~1601中2.2條 1402、1403中1.2條
服務(wù)地點(diǎn):全國
適用范圍:電子電氣
標(biāo)簽: 通用電子元器件(破壞性物理分析) 外部目檢 軍用電子元器件破壞性物理分析方法 GJB 4027B-2021 工作項(xiàng)目0101~1401、1501~1601中2.2條 1402、1403中1.2條