國家機(jī)械電子產(chǎn)品環(huán)境與可靠性質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)中心
劉經(jīng)理
政府測試機(jī)構(gòu)(質(zhì)檢、商檢、海關(guān)、
樣品名稱:光伏(PV)組件
檢測項(xiàng)目:光照和高溫引起的降解(LETID)
認(rèn)可資質(zhì):其它
檢測標(biāo)準(zhǔn):晶體硅光伏(PV)組件.光和高溫誘導(dǎo)退化(LETID)試驗(yàn).檢測 IECTS63342:Edition1.02022條款6.6
服務(wù)地點(diǎn):全國
適用范圍:電子電氣
標(biāo)簽: 光伏(PV)組件 光照和高溫引起的降解(LETID) 晶體硅光伏(PV)組件.光和高溫誘導(dǎo)退化(LETID)試驗(yàn).檢測 IECTS63342:Edition1.02022條款6.6