樣品名稱:電子元器件及設(shè)備(氣候)
檢測(cè)項(xiàng)目:高溫試驗(yàn)
認(rèn)可資質(zhì):其它
檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn):半導(dǎo)體分立器件試驗(yàn)方法 GJB 128A-1997 方法1031、1032
服務(wù)地點(diǎn):全國(guó)
適用范圍:電子電氣
標(biāo)簽: 電子元器件及設(shè)備(氣候) 高溫試驗(yàn) 半導(dǎo)體分立器件試驗(yàn)方法 GJB 128A-1997 方法1031、1032