樣品名稱:通用電子元器件(破壞性物理分析)
檢測項(xiàng)目:鍵合強(qiáng)度
認(rèn)可資質(zhì):其它
檢測標(biāo)準(zhǔn):軍用電子元器件破壞性物理分析方法 GJB 4027B-2021 工作項(xiàng)目0106中2.8條,0311中2.5條,0702、0901、0902、1003、1101、1102、1201~1301中2.9條,1004、1103中2.7條,1403中1.7條
服務(wù)地點(diǎn):全國
適用范圍:電子電氣
標(biāo)簽: 通用電子元器件(破壞性物理分析) 鍵合強(qiáng)度 軍用電子元器件破壞性物理分析方法 GJB 4027B-2021 工作項(xiàng)目0106中2.8條,0311中2.5條,0702、0901、0902、1003、1101、1102、1201~1301中2.9條,1004、1103中2.7條,1403中1.7條