樣品名稱:光伏(PV)組件
檢測項(xiàng)目:光照和高溫引起的降解(LETID)
認(rèn)可資質(zhì):其它
檢測標(biāo)準(zhǔn):晶體硅光伏(PV)組件.光和高溫誘導(dǎo)退化(LETID)試驗(yàn).檢測 IEC TS 63342: Edition 1.0 2022 6.6
服務(wù)地點(diǎn):廣東省 廣州市
適用范圍:電子電氣
標(biāo)簽: 光伏(PV)組件 光照和高溫引起的降解(LETID) 晶體硅光伏(PV)組件.光和高溫誘導(dǎo)退化(LETID)試驗(yàn).檢測 IEC TS 63342: Edition 1.0 2022 6.6